เปิดบริการแล้วเปิดให้บริการกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดที่มีสมรรถนะสูง (Field Emission Scanning Electron Microscope)
สามารถใช้ในการตรวจวิเคราะห์ลักษณะพื้นผิว ขนาด รูปร่างของอนุภาค และลักษณะการกระจายของเฟสในโครงสร้างจุลภาค เป็นต้น เหมาะสำหรับงานวิจัยวัสดุนาโนเทคโนโลยีให้บริการโดย คณะวิศวกรรมศาสตร์ สจล.
สามารถนัดเวลาใช้งานและสอบถามราคาได้ที่061-1129493 (อ. ยลพัชร์) หรือ
096-9242540 (อ.สุวารี)
